植物冠層分析儀都有哪些用途呢？

　　植物冠層分析儀是通過菜單操作的線性光合有效輻射測(cè)量?jī)x，用于測(cè)量植物冠層對(duì)光線的攔截，進(jìn)行冠層光能資源調(diào)查，研究作物的生長(zhǎng)發(fā)育、產(chǎn)量品質(zhì)與光能利用間的關(guān)系。可應(yīng)用于農(nóng)業(yè)生產(chǎn)和農(nóng)業(yè)科研，為進(jìn)行冠層光能資源調(diào)查，測(cè)量植物冠層中光線的攔截，研究作物的生長(zhǎng)發(fā)育、產(chǎn)量品質(zhì)與光能利用間的關(guān)系，本儀器用于400nm-700nm波段內(nèi)的光合有效輻射(PAR)測(cè)量、記錄。
 

　　植物冠層分析儀采用了冠層孔隙率與冠層結(jié)構(gòu)相關(guān)的原理。它是根據(jù)光線穿過介質(zhì)減弱的比爾定律，在對(duì)植物冠層定義了一系列假設(shè)前提的條件下，采用半理論半經(jīng)驗(yàn)的公式，通過冠層孔隙率的測(cè)定，計(jì)算出冠層結(jié)構(gòu)參數(shù)。這是目前世界上各種冠層儀一致采用的原理。在上述原理下，采用的是對(duì)冠層下半球圖像分析測(cè)量冠層孔隙率的方法，該方法是各類方法中(精)確和省力、省時(shí)、快捷方便的方法。
 

　　本儀器可測(cè)算植物冠層的太陽直射光透過率、天空散射光透過率、冠層的消光系數(shù)，葉面積指數(shù)和葉片平均傾角等，可用于農(nóng)作物、果樹、森林內(nèi)冠層受光狀況的測(cè)量和分析可用于不同植物群體結(jié)構(gòu)的比較；可對(duì)農(nóng)田作物群體生長(zhǎng)過程進(jìn)行動(dòng)態(tài)監(jiān)測(cè)適用于生態(tài)學(xué)野外植物群體動(dòng)態(tài)監(jiān)測(cè)的研究與教學(xué)；也適用于農(nóng)業(yè)、園藝、林業(yè)領(lǐng)域有關(guān)栽培、育種、植物群體對(duì)比與發(fā)展的研究與教學(xué)。
 

　　通過了解植物的生長(zhǎng)情況，及時(shí)做出相應(yīng)的調(diào)整，對(duì)于提高作物產(chǎn)量意義重大，通過確定植物冠層小官參數(shù)，各種植物冠層透光率及其隨時(shí)間變化的規(guī)律，在農(nóng)田生態(tài)監(jiān)測(cè)系統(tǒng)中的應(yīng)用工作提供了便利，可以更好的研究作物的生長(zhǎng)長(zhǎng)勢(shì)、生產(chǎn)產(chǎn)量和品質(zhì)與光能利用之間的聯(lián)系，更好的實(shí)現(xiàn)光能的利用率，為高效農(nóng)業(yè)生產(chǎn)提供依據(jù)。